[av_one_full first min_height=” vertical_alignment=” space=” custom_margin=” margin=’0px’ padding=’0px’ border=” border_color=” radius=’0px’ background_color=” src=” background_position=’top left’ background_repeat=’no-repeat’ animation=”]

[av_textblock size=” font_color=” color=”]

تست جریان گردابی (Eddy Current Testing) نوعی بازرسی غیر مخرب است که برای کنترل کیفیت قطعات رسانا به کار می رود و یک روش الکترومغناطیسی است. تست جریان گردابی از لحاظ دقت و سرعت عمل، روش بسیار مناسبی در بررسی های غیر مخرب برای مواد رساناست و برای آشکار سازی عیوب و ناهمگنی های سطحی و زیر سطحی به کار می رود. یکی از مزایای تست جریان گردابی این است که وجود لایه های نازک رنگ، روغن و چربی روی سطح قطعه مزاحمت چندان زیادی را ایجاد نمی کند.

این روش معمولا برای بازرسی عیوب سطحی تولیدات نیمه تمام مانند لوله ها، انواع پروفیل ها، میله ها، شمش های داغ ریخته گری مداوم، مفتول های داغ در حین فرآیند شکل دهی گرم با دمای بالا (حدود 800 تا 1200 درجه سانتی گراد) و محصولات نهایی مانند غلتک ها، پین ها و ارزیابی خوردگی سازه ها و سطوح مخفی بال هواپبماها و بدنه کشتی ها و مخازن به کار می رود.

در هر مورد از تاثیر یکی از عوامل موثر بر جریان گردابی استفاده می شود و تاثیر عوامل دیگر تا حد امکان حذف می شود. برای مثال شناسایی عیب یا ناهمگنی از اختلاف قابلیت رسانایی الکتریکی موضعی عیب با دیگر نقاط سالم مجاور آن استفاده می شود. عوامل موثر دیگری که بر روی تمامی قطعه به صورت یکنواخت تاثیر می گذارد، می تواند با استفاده از یک سیم پیچ ثانوی حذف شود. بازرسی جریان گردابی نه فقط برای شناسایی عیوب بلکه برای اندازه گیری ابعاد، ضخامت لایه پوشش، سختی و استحکام فولادها و تعیین فازهای حاصل از عملیات حرارتی به کار می رود.

 این آزمایش بیشتر برای بازرسی قطعات از جنس مواد رسانا و غیر مغناطیسی به کار می رود. البته برای مواد مغناطیسی نیز می توان این روش را به کار برد، اما به علت این که نفوذ پذیری مغناطیسی خود قطعه بر نتایج آزمایش تاثیر نامطلوب دارد، در اینگونه موارد موقعی می توان از این روش استفاده نمود که به کمک یک میدان مغناطیسی ثابت این تاثیر را تا حد امکان کاهش داد. به این منظور از یک سیم پیچ با جریان مستقیم (DC) یا یک مغناطیس مداوم برای غلبه بر تاثیر نفوذ پذیری استفاده می شود و فرکانس انتخابی نیز در حد پایینی است (برای مثال برای شناسایی عیوب سطحی حدود 100 تا 200 هرتز و برای شناسایی عیوب زیر سطحی از فرکانس های پایین تر).

[/av_textblock]

[/av_one_full]