مراحل بازرسی به روش آزمون نشتی شار مغناطیسی (MFL)

فرآیند بازرسی به روش آزمون نشتی شار مغناطیسی

در تصویر زیر سه مرحله فرآیند بازرسی به روش آزمون نشتی شار مغناطیسی (MFL) را مشاهده می‌کنید:

۱. تنظیم یا کالیبره کردن (Calibrate)

در اولین مرحله از مراحل بازرسی به روش آزمون نشتی شار مغناطیسی،  مشخصات طناب یا مفتول همچون اطلاعات مربوط به ساخت سیم و طول طناب وارد می‌شود تا ارزش معیار و محک مشخص گردد.

۲. بازرسی (Inspect)

در مرحله دوم دستگاه بازرسی برای اندازه‌گیری طناب یا مفتول مشخص‌شده تنظیم می‌شود.

۳. بازبینی سیستم (System Review)

گزارش بازرسی طناب یا مفتول بررسی می‌شود.

عیوب ایجادشده بر روی کابل‌ها

عیوب ایجادشده بر روی کابل‌ها به‌صورت عیوب داخلی و خارجی هستند که شامل شکستگی مفتول‌ها، ساییدگی، خوردگی، تغییر شکل، عیوب خستگی و … می‌باشند.

در تصویر بالا انواع مختلف عیوب ایجادشده بر روی کابل‌ها آورده شده است. یکی از راه‌کارهای مناسب برای بررسی این عیوب استفاده از روش‌های چشمی و آزمون‌های غیر مخرب است. روش آزمون نشتی شار مغناطیسی (MFL) یکی از این روش‌ها است که به شناسایی نوع و محل عیب می‌پردازد.

تفاوت روش آزمون نشتی شار مغناطیسی (MFL) با بازرسی چشمی

همان‌طور که در تصاویر بالا مشخص است روش بازرسی چشمی در مقایسه با روش آزمون نشتی شار مغناطیسی (MFL) تنها 20 درصد از عیوب را نشان می‌دهد.

شرکت مهندسان پایش وضعیت امیرکبیر (مپوا) ازجمله تولیدکنندگان دستگاه‌های حوزه آزمون‌های غیر مخرب است که در زمینه عیب‌یابی و بازرسی کابل‌ها این دستگاه‌ها را عرضه و خدمات مربوط به این حوزه را انجام می‌دهد. برای کسب مشاوره در مورد کابل‌های تله‌کابین، آسانسور، کابل‌های جرثقیل و بالابرها و کابل‌های استفاده‌شده در معادن و …. با ما در ارتباط باشید.

تلفن و تلفکس:

۰۲۱۶۶۹۵۶۶۲۱

۰۲۱۶۶۴۶۹۱۴۸

۰۲۱۶۶۹۵۶۹۱۱

www.mapvaco.com

لینک های مرتبط : 

دستگاه نشت شار مغناطیسی (Magnetic Flux Leakage (MFL

اطلس عیوب ایجادشده بر روی کابل‌ها سیم بکسل

منبع : https://ropescan.us/inspection-process